АППАРАТУРНЫЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ МИКРО- И НАНОТЕСТИРОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛОВ И ПОКРЫТИЙ

С.Р. Игнатович, В.Н. Шмаров, И.М. Закиев

Аннотация


Розроблено комплекс приладів для проведен­ня мікро- та нанотестування функціональних поверхонь у відповідності до міжнародних вимог та стандартів. Комплекс включає прилади: універсальний нанотестер "Мікрон-гама", у якому поєднані функції індентометра та скретч-тестера, оптичний інтерферен­ційний профілометр "Мікрон-альфа", калотестер для випробування функціональних повер­хонь на мікроабразивне зношення.


Полный текст:

PDF>PDF

Литература


Miyoshi K. Surface characterization techniques: an overview. — NASA/TM -2002-211497, Glenn Research Center of NASA. — July, 2002. — 45 P.

Головин Ю.И., Иволгин В.И., Коренков B.B., Рябко Р.И. Определение комплекса механических свойств материалов в нанообъемах методами на- ноиндентирования. // Конденсированные среды и межфазные границы, 2001. — 3, № 2. — С. 122—135. 2000. - 35, N4. - P. 377-399.

Van Landingham M. R. Review of instrument¬ed indentation // J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. - 2003. - 108, N 4. - P. 249-265.

Wolf B. Inference of mechanical properties from instrumented depth sensing indentation at tiny loads and indentation depths // Cryst. Res. Technol. — 6.Прилад для випробування матеріалів на мікротвердість: Патент на корисну модель № 30003 Україна, G01N 3/40 / С.Р. Ігнатович, І.М. Закієв, В.І. Закієв, Є.П. Дворник (Україна). — 200709512; Заявл. 21.08.2007; Опубл. 11.02.2008, Бюл. № 3. — 4 с.

Фирстов С.А., Игнатович С.Р., Закиев И.М. Размерный эффект при микро/нано- индентировании и его компенсация с учетом особенности начального контакта // Пробл. прочности, 2009. — № 2. — С. 43—54.

Игнатович С.Р., Закиев И.М., Борисов Д.И. Оценка структурно-деформационной неоднород-ности тонкого поверхностного слоя материалов методом царапания // Пробл. прочности, 2008. — № 3. — С. 70—81.

Caber PJ., Martinek S.J., Niemann RJ. A new interferometer profiler for smooth and rough surfaces // WYKO Technical Bulletin 1993-27A, WYKO, Tucson, AZ. — 1993. — P.1—14.

Безконтактний тривимірний профілометр: Патент на корисну модель № 39972 Україна, G01B 9/02; 11/30 / С.Р. Ігнатович, І.М. Закієв, В.I.Заюев, С.С. Юцкевич (Украша). —u200809989; Заявл. 01.08.2008; Опубл. 25.03.2009, Бюл. № 6. — 3 с.: 2 ш.

Игнатович С.Р., Шмаров В.Н., Закиев И.М., Закиев В.И. Профилометр для контроля микро/нано топографии поверхности методом оптической интерферометрии / Нанотехнологии: Сб. докл. Харьковской нанотехнологической ассамблеи- 2008: Т.1., — Харьков: ХФТИ, 2008 — С. 202—205.

Kusano Y, Van Acker K and Hutchings I. M. Methods of data analysis for the micro-scale abrasion test on coated substrates // Surf. Coat. Technol. — 2004. — 183. — № 2—3. — P. 312—327.

DIN EN 1071-2-2003. Advanced technical ceramics — Methods of test for ceramic coatings — Part 2: Determination of coating thickness by the crater grinding method; German ver-sion EN 1071-2:2002. — German, 2003. — 16 P.

DIN EN 1071-6-2008. Advanced technical ceramics — Methods of test for ceramic coatings — Part 6: Determination of the abrasion resistance of coatings by a micro-abrasion wear test; German ver-sion EN 1071-6:2007. — German, 2008. — 22 P.


Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.


КОНТАКТЫСОБЫТИЯ ПРАВОВАЯ ИНФОРМАЦИЯ
ул. Кирилловская, 19-21, Киев, 04080, Украина Тел./факс: +3 8 (044) 455-93-92 Е-mail: iiii@ukrniat.com, ukrniat@ukrniat.com 
  • Новый выпуск журнала Технологические системы № 1 2018
  • Размещение журнала в IndexCopernicus
  • Рабочие встречи ГП АНТОНОВ и Азербайджанской стороны

 

Некоммерческое использование материалов сайта technological-systems.com.ua (в том числе цитирование и сокращенное изложение) разрешается при условии размещения прямой ссылки на цитируемый материал или на главную страницу technological-systems.com.ua. Любое коммерческое использование, а также перепечатка материалов возможны только с письменного разрешения редакции.